电容失效是电路故障的常见原因，但如何快速判断其性能状态？ 通过数字万用表的基础功能，可以完成多项关键检测，避免盲目更换元器件。正全电子以下将分步解析标准检测流程。

一、准备工作与安全事项

检测前需确保数字万用表具备电容测量档位（通常标注"C"或"F"符号）。若无专用档位，可通过电阻测量间接判断。

关键准备步骤

1. 完全放电：使用电阻或专用放电工具消除残余电荷
2. 清洁引脚：氧化层可能导致接触不良（来源：IEC 60384标准）
3. 记录标称值：对比测量结果与电容标识参数

   注意：电解电容需区分极性，反向测量可能导致损坏。

二、三种核心检测方法

2.1 直接容量测量

切换到电容档位，表笔接触电容引脚。稳定读数后： - 读数接近标称值：性能正常 - 显著偏低：可能容量衰减 - 显示"OL"或超量程：内部开路 正全电子实测数据显示，薄膜电容的测量误差通常小于电解电容（来源：正全实验室,2023）。

2.2 ESR等效串联电阻检测

某些高级万用表具备ESR功能： 1. 选择ESR模式 2. 保持电容在电路板上（需断电） 3. 对比行业标准值

提示：ESR升高往往早于容量下降，是早期故障指标。

2.3 漏电流检测（间接法）

通过电阻档观察： - 读数持续上升：绝缘性能良好 - 固定低阻值：存在严重漏电

三、结果分析与典型故障