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电子元器件寿命

132025-06
BP电容寿命预测模型：加速老化测试方法与结果解读在工业电子领域，BP电容的可靠性直接影响设备使用寿命。传统依赖经验公式的评估方式可能产生显著偏差，而基于加速老化测试的预测模型提供了更科学的解决方案。正全电子通过实验数据验证，该模型预测误差通常可控制在15%以内(来源：IEEE Trans...

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